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原位TEM力學加熱樣品臺概述

更新時間:2022-05-10      點擊次數(shù):2371
  樣品臺作為一種常用的實驗檢測設備,常常需要對樣品進行加熱,現(xiàn)有的樣品臺在加熱時,往往是在底部加熱,或者采用水浴加熱,而這些加熱方式都是傳導加熱,熱量需要從邊沿向中間傳遞,這樣存在加熱不均勻,而為了解決加熱均勻性的問題,一般會在樣品臺上增設攪拌設備或者在底部做磁攪拌,增設機械攪拌在需要攪拌時需要調(diào)整攪拌槳的位置在攪拌完成后又需要挪走,操作麻煩。原位TEM力學加熱樣品臺可解決現(xiàn)有的樣品臺加熱設備加熱不均勻,操作不方便的問題。
 
  原位TEM力學加熱樣品臺上的MEMS(微機電系統(tǒng))力學芯片可外接力學控制器,在透射電鏡內(nèi)可動態(tài)實時觀察樣品材料微結(jié)構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數(shù)據(jù),以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結(jié)構變化數(shù)據(jù),實現(xiàn)了定量分析材料的微觀力學性質(zhì)、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴展、材料疲勞和斷裂機制、加速蠕變、分層、形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。該原位力學系統(tǒng)穩(wěn)定性好,經(jīng)過科學設計,實現(xiàn)漂移率最小化。

 

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